您好,欢迎进入上海众林机电设备有限公司网站!
一键分享网站到:

产品列表

PROUCTS LIST

技术文章Article 当前位置:首页 > 技术文章 > 荧光法顶空分析仪的原理是什么
荧光法顶空分析仪的原理是什么
点击次数:166 发布时间:2020-03-19
  荧光法顶空分析仪进行顶空分析测试的意义在于检测残留在包装内的气体成分,并依此调整包装工艺:对于残存在包装内部的那些气体来讲,不能因为包装工艺的完结就对其不再关注。
 
  包装内部的气体成分自灌装结束到打开包装使用产品之前是很难利用其它技术手段来进行控制和改变的,荧光法顶空分析仪采用阻隔性包装材料只能给气体渗入/渗出包装材料带来阻碍,并不能消除包装内部已有的氧气等气体(不包括在包装中添加除氧技术的情况)。
 
  如果残留气体的含量超过产品保存的高浓度要求,则无论采用多好的高阻隔材料及多完善的密封包装形式都无法满足产品的保质期要求。
 
  所以,我们需要检测残留在包装内的气体成分,并依此调整包装工艺。
 
  荧光法顶空分析仪用于密封包装袋、瓶、罐等包装件内氧气、二氧化碳气体含量、混合比例的测定;适合在生产线、仓库、实验室内等场合快速准确地对包装件内的气体组分含量与比例做出评价,从而指导生产,保证产品货架期得以实现。
上海众林机电设备有限公司版权所有 © 2020 上海众林机电设备有限公司  ICP备案号:沪ICP备09010535号-13
QQ在线客服